Siemens Digital Industries Software ha presentato oggi il software Tessent™ AnalogTest, una soluzione innovativa che riduce i tempi di generazione dei modelli per i test dei circuiti analogici da mesi a giorni. La soluzione consente di testare i circuiti analogici nei circuiti integrati (IC) con una velocità fino a 100 volte superiore rispetto ai metodi manuali tradizionali.
Il collaudo dei circuiti analogici è sempre stato un'attività laboriosa, che richiedeva una codifica dei test prolungata e costose apparecchiature di collaudo a segnale misto. In combinazione con la tecnologia Tessent DefectSim di Siemens, collaudata sul mercato, il nuovo software Tessent AnalogTest contribuisce a ridurre drasticamente i tempi di codifica dei test per i circuiti analogici nei circuiti integrati, generando automaticamente circuiti DFT (design-for-test) a impatto minimo e modelli di test digitali per quasi tutti i blocchi di circuiti analogici. I test vengono eseguiti in meno di un millisecondo su quasi tutti i tester e la copertura dei difetti può essere verificata in simulazione fino a 1000 volte più velocemente rispetto ai test basati sulle specifiche.
L'introduzione di Tessent AnalogTest segna la prima soluzione DFT automatizzata per circuiti analogici nei circuiti integrati, fornendo vettori digitali per testare e calcolare in modo efficiente la copertura dei test prima del passaggio alla produzione di silicio. La soluzione sfrutta apparecchiature di test automatizzate digitali (ATE) per lo sviluppo di circuiti analogici, consentendo una riduzione dei costi e una maggiore produttività rispetto all'utilizzo di tester a segnale misto più costosi. Questa accelerazione consente ai progettisti di circuiti integrati di ottenere e verificare una copertura dei difetti elevata (>90%) basata sullo standard IEEE P2427 in poche ore per singoli blocchi di circuiti, stabilendo nuovi benchmark di velocità e riducendo drasticamente il time-to-market.
“Questo software all'avanguardia offre risultati di test rapidi, garantendo al contempo una maggiore copertura dei difetti analogici e test fino a 100 volte più veloci rispetto ai metodi convenzionali”, ha affermato Ankur Gupta, vicepresidente senior e direttore generale della piattaforma di creazione di progetti digitali di Siemens Digital Industries Software. “Il software Tessent AnalogTest rappresenta un enorme passo avanti nell'affrontare le principali sfide in termini di qualità e costi associate ai test dei circuiti analogici, consentendo ai nostri clienti di semplificare i processi e ridurre i costi complessivi dei test”.
Onsemi, cliente di lunga data di Tessent DefectSim, ha utilizzato Tessent AnalogTest per un progetto taped-out. Grazie a questo strumento, Onsemi è riuscita a ottenere una copertura dei difetti analogici superiore al 95% e un miglioramento dei tempi di test superiore a 100 volte rispetto ai metodi di test tradizionali.
“La sfida più grande per l'industria dei semiconduttori è quella di implementare un approccio strutturato di progettazione per il test (Design-for-Test) per i circuiti analogici. Gli standard IEEE P2427 e P1687.2 aprono la strada a nuovi strumenti di automazione che svolgeranno questo compito”, ha affermato Steven Gray, vicepresidente senior di OnSemi. "Tessent AnalogTest è uno strumento che si basa su questi standard per generare automaticamente soluzioni DFT e test associati. Riteniamo che ciò possa tradursi in tempi di sviluppo più brevi, test molto più rapidi e una migliore qualità, in modo simile a come la scansione ha migliorato il DFT e i test per i circuiti digitali".
Il software amplia in modo unico le sue capacità di generazione di test strutturali producendo banchi di prova di simulazione da test basati su specifiche, utilizzando le intuitive descrizioni di test ICL e PDL di alto livello come specificato dallo standard IEEE P1687.2, che è l'estensione analogica dello standard digitale IJTAG ampiamente utilizzato. Questi test possono verificare il flusso di test analogici e la copertura dei difetti per la regolazione algoritmica, i test parametrici di rabbocco o le metriche di sicurezza funzionale ISO 26262. Inoltre, l'integrazione dei test di scansione può migliorare ulteriormente queste metriche.
Tessent AnalogTest è già in uso presso i primi partner e sarà disponibile al pubblico nel dicembre 2025. Per ulteriori informazioni, visitare il sito: www.siemens.com/tessent
